SEM-EDS

최대 15만배까지 영상 관찰 및 고 분해능 Image Scan 가능하여
 미세한 Particle 및 요염 물질의 위치 및 형상을 분석할 수 있습니다.

주사전자현미경에 부착된 EDS는 시료표면의 성분 분석을 할 수 있습니다.
정성 및 정량 분석이 가능합니다.